Electrical Overstress (EOS) Failure Mechanisms - Practical Electron Microscopy and Database - - An Online Book - |
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Table 1297 lists electrical overstress (EOS) in multi-gate technologies and FinFET (Fin Field Effect Transistor) devices. FinFET structures is used to replace standard planar MOSFETs in advanced CMOS technology nodes.
EOS (Electrical Overstress) failure mechanisms in CMOS technology can occur in all active and passive elements [1]:
[1] Steven H. Voldman, Electrical Overstress (EOS): Devices, Circuits and Systems, 2013.
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